电容器低电压失效的机理?

点击:2344 日期:2015-10-16 选择字号:
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电容器低电压失效的机理?

电容低电压失效的机理 

                                                                                                                                    佛山纯源·薄膜电容器专家400 617 2918


在电路设计中,有一种常见的认识,“器件的裕度设计在没有把握的情况下,余量尽可能大就会可靠”,事实上这个观点是错误的。对于安规电容来说,耐压余量留的太大,也会导致一种失效,称之为“低电压失效”。 

        低电压失效的机理是介质漏电流的存在。在较大湿度情况下,因为电容的不密封性,会导致潮气渗入,在薄膜电容两极加电压时,渗入的潮气表面会因其导电性形成漏电流,过量的漏电流会使薄膜电容的储能特性大大降低,结果就表现为电容的特性丧失。这个现象在湿度储存试验后加电运行时很容易出现。 

        但经过一段时间(不少于2h)的高温储存后,再开机,该电容的性能又可以恢复。 

        或者将薄膜电容拆下,给两端加较高电压(不低于0.7倍额定电压的电压值,如50V的电容,加不低于35V,不高于50V的电压),加压一小段时间后,再将电容焊上电路板,开机后,失效现象消失。 

         以上现象产生的机理如图。填充介质中,渗入潮气,会形成如图所示的漏电流通路,其上会产生漏电流,导通通路上有电阻,因此会产生热量I2R,当电容的额定耐压值较大,而实际施加的电压很小时(如施加10%的额定耐压),热量很小,不足以使潮气挥发掉,因此表现为电容失效。但施加的电压较大时,相同的电阻值,却能产生较大的热量,热量会使潮气快速挥发,电容特性很快恢复。因此,薄膜电容的耐压值降额幅度过大,容易引发低电压失效。一般以按照**降额到额定值的70%为宜。 

         高温储存试验后,潮气在高温下快速挥发,电容特性可恢复。 

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